Muons in air showers at the Pierre Auger Observatory: Measurement of atmospheric production depth

Pierre Auger Collaboration; Aab, A.; Abreu, P.; Aglietta, M.; Ahlers, M.; Ahn, E. J.; Al Samarai, I.; Albuquerque, I. F. M.; Allekotte, I.; Allen, J.; Allison, P.; Almela, A.; Alvarez Castillo, J.; Alvarez-Muniz, J.; Alves Batista, R.; Ambrosio, M.; Aminaei, A.; Anchordoqui, L.; Andringa, S.; Aramo, C.; Arqueros, F.; Asorey, H.; Assis, P.; Aublin, J.; Ave, M.; Avenier, M.; Avila, G.; Badescu, A. M.; Barber, K. B.; Bäuml, J.; Baus, C.; Beatty, J. J.; Becker, K. H.; Bellido, J. A.; Berat, C.; Bertou, X.; Biermann, P. L.; Billoir, P.; Blanco, F.; Blanco, M.; Bleve, C.; Blümer, H.; Bohaifmmode, M.; Boncioli, D.; Bonifazi, C.; Bonino, R.; Borodai, N.; Brack, J.; Brancus, I.; Brogueira, P.; Brown, W. C.; Buchholz, P.; Bueno, A.; Buscemi, M.; Caballero-Mora, K. S.; Caccianiga, B.; Caccianiga, L.; Candusso, M.; Caramete, L.; Caruso, R.; Castellina, A.; Cataldi, G.; Cazon, L.; Cester, R.; Chavez, A. G.; Cheng, S. H.; Chiavassa, A.; Chinellato, J. A.; Chudoba, J.; Cilmo, M.; Clay, R. W.; Cocciolo, G.; Colalillo, R.; Collica, L.; Coluccia, M. R.; Conceiao, R.; Contreras, F.; Cooper, M. J.; Coutu, S.; Covault, C. E.; Criss, A.; Cronin, J.; Curutiu, A.; Dallier, R.; Daniel, B.; Dasso, S.; Daumiller, K.; Dawson, B. R.; Almeida, R. M. de; De Domenico, M.; Jong, S. J. de; Mello Neto, J. R. T. de; Mitri, I. De; Oliveira, J. de; Souza, V. de; Peral, L. del; Deligny, O.; Dembinski, H.; Dhital, N.; Di Giulio, C.; Di Matteo, A.; Diaz, J. C.; Diaz Castro, M. L.; Diep, P. N.; Diogo, F.; Dobrigkeit, C.; Docters, W.; D'Olivo, J. C.; Dong, P. N.; Dorofeev, A.; Dorosti Hasankiadeh, Q.; Dova, M. T.; Ebr, J.; Engel, R.; Erdmann, M.; Erfani, M.; Escobar, C. O.; Espadanal, J.; Etchegoyen, A.; Facal San Luis, P.; Falcke, H.; Fang, K.; Farrar, G.; Fauth, A. C.; Fazzini, N.; Ferguson, A. P.; Fernandes, M.; Fick, B.; Figueira, J. M.; Filevich, A.; Filip, A.; Fox, B. D.; Fratu, O.; Fröhlich, U.; Fuchs, B.; Fuji, T.; Gaior, R.; Garcia, B.; Garcia Roca, S. T.; Garcia-Gamez, D.; Garcia-Pinto, D.; Garilli, G.; Gascon Bravo, A.; Gate, F.; Gemmeke, H.; Ghia, P. L.; Giaccari, U.; Giammarchi, M.; Giller, M.; Glaser, C.; Glass, H.; Gomez Albarracin, F.; Gomez Berisso, M.; Gomez Vitale, P. F.; Gonalves, P.; Gonzalez, J. G.; Gookin, B.; Gorgi, A.; Gorham, P.; Gouffon, P.; Grebe, S.; Griffith, N.; Grillo, A. F.; Grubb, T. D.; Guardincerri, Y.; Guarino, F.; Guedes, G. P.; Hansen, P.; Harari, D.; Harrison, T. A.; Harton, J. L.; Haungs, A.; Hebbeker, T.; Heck, D.; Heimann, P.; Herve, A. E.; Hill, G. C.; Hojvat, C.; Hollon, N.; Holt, E.; Homola, P.; Hörandel, J. R.; Horvath, P.; Hrabovsky, M.; Huber, D.; Huege, T.; Insolia, A.; Isar, P. G.; Islo, K.; Jandt, I.; Jansen, S.; Jarne, C.; Josebachuili, M.; Kääpä, A.; Kambeitz, O.; Kampert, K. H.; Kasper, P.; Katkov, I.; Kegl, B.; Keilhauer, B.; Keivani, A.; Kemp, E.; Kieckhafer, R. M.; Klages, H. O.; Kleifges, M.; Kleinfeller, J.; Krause, R.; Krohm, N.; Krömer, O.; Kruppke-Hansen, D.; Kuempel, D.; Kunka, N.; La Rosa, G.; LaHurd, D.; Latronico, L.; Lauer, R.; Lauscher, M.; Lautridou, P.; Le Coz, S.; Leao, M. S. A. B.; Lebrun, D.; Lebrun, P.; Leigui de Oliveira, M. A.; Letessier-Selvon, A.; Lhenry-Yvon, I.; Link, K.; Lopez, R.; Lopez Agüera, A.; Louedec, K.; Lozano Bahilo, J.; Lu, L.; Lucero, A.; Ludwig, M.; Lyberis, H.; Maccarone, M. C.; Malacari, M.; Maldera, S.; Maller, J.; Mandat, D.; Mantsch, P.; Mariazzi, A. G.; Marin, V.; Mari, I. C.; Marsella, G.; Martello, D.; Martin, L.; Martinez, H.; Martinez Bravo, O.; Martraire, D.; Masias Meza, J. J.; Mathes, H. J.; Mathys, S.; Matthews, A. J.; Matthews, J.; Matthiae, G.; Maurel, D.; Maurizio, D.; Mayotte, E.; Mazur, P. O.; Medina, C.; Medina-Tanco, G.; Melissas, M.; Melo, D.; Menichetti, E.; Menshikov, A.; Messina, S.; Meyhandan, R.; Mi, S.; Micheletti, M. I.; Middendorf, L.; Minaya, I. A.; Miramonti, L.; Mitrica, B.; Molina-Bueno, L.; Mollerach, S.; Monasor, M.; Monnier Ragaigne, D.; Montanet, F.; Morello, C.; Moreno, J. C.; Mostafa, M.; Moura, C. A.; Muller, M. A.; Müller, G.; Münchmeyer, M.; Mussa, R.; Navarra, G.; Navas, S.; Necesal, P.; Nellen, L.; Nelles, A.; Neuser, J.; Niechciol, M.; Niemietz, L.; Niggemann, T.; Nitz, D.; Nosek, D.; Novotny, V.; Noka, L.; Ochilo, L.; Olinto, A.; Oliveira, M.; Ortiz, M.; Pacheco, N.; Pakk Selmi-Dei, D.; Palatka, M.; Pallotta, J.; Palmieri, N.; Papenbreer, P.; Parente, G.; Parra, A.; Pastor, S.; Paul, T.; Pech, M.; Pkala, J.; Pelayo, R.; Pepe, I. M.; Perrone, L.; Pesce, R.; Petermann, E.; Peters, C.; Petrera, S.; Petrolini, A.; Petrov, Y.; Piegaia, R.; Pierog, T.; Pieroni, P.; Pimenta, M.; Pirronello, V.; Platino, M.; Plum, M.; Porcelli, A.; Porowski, C.; Prado, R. R.; Privitera, P.; Prouza, M.; Purrello, V.; Quel, E. J.; Querchfeld, S.; Quinn, S.; Rautenberg, J.; Ravel, O.; Ravignani, D.; Revenu, B.; Ridky, J.; Riggi, S.; Risse, M.; Ristori, P.; Rizi, V.; Roberts, J.; Rodrigues de Carvalho, W.; Rodriguez Cabo, I.; Rodriguez Fernandez, G.; Rodriguez Rojo, J.; Rodrias, M. D.; Ros, G.; Rosado, J.; Rossler, T.; Roth, M.; Roulet, E.; Rovero, A. C.; Rühle, C.; Saffi, S. J.; Saftoiu, A.; Salamida, F.; Salazar, H.; Saleh, A.; Salesa Greus, F.; Salina, G.; Sanchez, F.; Sanchez-Lucas, P.; Santo, C. E.; Santos, E.; Santos, E. M.; Sarazin, F.; Sarkar, B.; Sarmento, R.; Sato, R.; Scharf, N.; Scherini, V.; Schieler, H.; Schiffer, P.; Schmidt, A.; Scholten, O.; Schoorlemmer, H.; Schovanek, P.; Schulz, A.; Schulz, J.; Sciutto, S. J.; Segreto, A.; Settimo, M.; Shadkam, A.; Shellard, R. C.; Sidelnik, I.; Sigl, G.; Sima, O.; Skowski, A.; Ida, R.; Snow, G. R.; Sommers, P.; Sorokin, J.; Squartini, R.; Srivastava, Y. N.; Stani, S.; Stapleton, J.; Stasielak, J.; Stephan, M.; Stutz, A.; Suarez, F.; Suomijärvi, T.; Supanitsky, A. D.; Sutherland, M. S.; Swain, J.; Szadkowski, Z.; Szuba, M.; Taborda, O. A.; Tapia, A.; Tartare, M.; Thao, N. T.; Theodoro, V. M.; Tiffenberg, J.; Timmermans, C.; Todero Peixoto, C. J.; Toma, G.; Tomankova, L.; Tome, B.; Tonachini, A.; Torralba Elipe, G.; Torres Machado, D.; Travnicek, P.; Trovato, E.; Tueros, M.; Ulrich, R.; Unger, M.; Urban, M.; Valdes Galicia, J. F.; Valino, I.; Valore, L.; Aar, G. van; den Berg, A. M. van; Velzen, S. van; Vliet, A. van; Varela, E.; Vargas Cardenas, B.; Varner, G.; Vazquez, J. R.; Vazquez, R. A.; Veberi, D.; Verzi, V.; Vicha, J.; Videla, M.; Villasenor, L.; Vlcek, B.; Vorobiov, S.; Wahlberg, H.; Wainberg, O.; Walz, D.; Watson, A. A.; Weber, M.; Weidenhaupt, K.; Weindl, A.; Werner, F.; Whelan, B. J.; Widom, A.; Wiencke, L.; Wilczyska, B.; Wilczyski, H.; Will, M.; Williams, C.; Winchen, T.; Wittkowski, D.; Wundheiler, B.; Wykes, S.; Yamamoto, T.; Yapici, T.; Younk, P.; Yuan, G.; Yushkov, A.; Zamorano, B.; Zas, E.; Zavrtanik, D.; Zavrtanik, M.; Zaw, I.; Zepeda, A.; Zhou, J.; Zhu, Y.; Zimbres Silva, M.; Ziolkowski, M.

doi:10.1103/PhysRevD.90.012012

Muons in air showers at the Pierre Auger Observatory: Measurement of atmospheric production depth

Pierre Auger Collaboration; Aab, A.; Abreu, P.; Aglietta, M.; Ahlers, M.; Ahn, E. J.; Al Samarai, I.; Albuquerque, I. F. M.; Allekotte, I.; Allen, J.; Allison, P.; Almela, A.; Alvarez Castillo, J.; Alvarez-Muniz, J.; Alves Batista, R.; Ambrosio, M.; Aminaei, A.; Anchordoqui, L.; Andringa, S.; ... mehr

Externe Links

Download

Originalveröffentlichung
DOI: 10.1103/PhysRevD.90.012012

Scopus
Zitationen: 111

Web of Science
Zitationen: 181

Dimensions
Zitationen: 73

Export

Statistiken

Seitenaufrufe: 237
seit 28.04.2018

Zugehörige Institution(en) am KIT	Fakultät für Physik – Institut für Experimentelle Kernphysik (IEKP) Institut für Kernphysik (IKP) Institut für Prozessdatenverarbeitung und Elektronik (IPE)
Publikationstyp	Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr	2014
Sprache	Englisch
Identifikator	ISSN: 1550-7998 KITopen-ID: 1000042237
HGF-Programm	51.53.01 (POF II, LK 02) Großgerät: AUGER
Erschienen in	Physical review D
Verlag	American Physical Society (APS)
Band	90
Seiten	012012/1-15
Nachgewiesen in	Web of Science OpenAlex Scopus Dimensions
Globale Ziele für nachhaltige Entwicklung

Repository KITopen

Muons in air showers at the Pierre Auger Observatory: Measurement of atmospheric production depth