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Measurement of B -> X gamma Decays and Determination of |V-td/V-ts|

Aubert, B.; Bona, M.; Karyotakis, Y.; Lees, J.P.; Poireau, V.; Prencipe, E.; Prudent, X.; Tisserand, V.; Garra Tico, J.; Grauges, E.; Lopez, L.; Palano, A.; Pappagallo, M.; Eigen, G.; Stugu, B.; Sun, L.; Abrams, G.S.; Battaglia, M.; Brown, D.N.; Cahn, R.N.; ... mehr



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Experimentelle Kernphysik (IEKP)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2009
Sprache Englisch
Identifikator DOI: 10.1103/PhysRevLett.102.161803
ISSN: 0031-9007
KITopen ID: 1000042403
Erschienen in Physical Review Letters
Band 102
Heft 16
Seiten 161803
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