Measurement of the decay B-0 -> pi(-) l(+) nu and determination of vertical bar V-ub vertical bar

Ha, H.; Won, E.; Adachi, I.; Aihara, H.; Aziz, T.; Bakich, A.M.; Balagura, V.; Barberio, E.; Bay, A.; Belous, K.; Bhardwaj, V.; Bhuyan, B.; Bischofberger, M.; Bondar, A.; Bozek, A.; Bračko, M.; Browder, T.E.; Chao, Y.; Chen, A.; Chen, P.; ... mehrCheon, B.G.; Chiang, C.-C.; Cho, I.-S.; Cho, K.; Choi, K.-S.; Choi, Y.; Dalseno, J.; Danilov, M.; Doležal, Z.; Drutskoy, A.; Dungel, W.; Eidelman, S.; Gabyshev, N.; Golob, B.; Haba, J.; Hayasaka, K.; Hayashii, H.; Horii, Y.; Hoshi, Y.; Hou, W.-S.; Hsiung, Y.B.; Hyun, H.J.; Iijima, T.; Inami, K.; Itoh, R.; Iwabuchi, M.; Iwasaki, Y.; Joshi, N.J.; Julius, T.; Kang, J.H.; Kawasaki, T.; Kiesling, C.; Kim, H.J.; Kim, H.O.; Kim, M.J.; Kim, S.K.; Kim, Y.J.; Kinoshita, K.; Ko, B.R.; Korpar, S.; Križan, P.; Kuhr, T.; Kumita, T.; Kuzmin, A.; Kwon, Y.-J.; Kyeong, S.-H.; Lange, J.S.; Lee, M.J.; Lee, S.-H.; Li, Y.; Limosani, A.; Liu, C.; Liu, Y.; Liventsev, D.; Louvot, R.; McOnie, S.; Miyabayashi, K.; Miyata, H.; Miyazaki, Y.; Mohanty, G.B.; Mori, T.; Nagasaka, Y.; Nakano, E.; Nakao, M.; Nakazawa, H.; Natkaniec, Z.; Neubauer, S.; Nishida, S.; Nishimura, K.; Nitoh, O.; Nozaki, T.; Ogawa, S.; Ohshima, T.; Okuno, S.; Olsen, S.L.; Pakhlov, P.; Pakhlova, G.; Park, C.W.; Park, H.; Park, H.K.; Pestotnik, R.; Petrič, M.; Piilonen, L.E.; Röhrken, M.; Ryu, S.; Sahoo, H.; Sakai, Y.; Schneider, O.; Schwanda, C.; Schwartz, A.J.; Senyo, K.; Sevior, M.E.; Shapkin, M.; Shen, C.P.; Shiu, J.-G.; Simon, F.; Smerkol, P.; Sohn, Y.-S.; Sokolov, A.; Stanič, S.; Starič, M.; Sumiyoshi, T.; Teramoto, Y.; Trabelsi, K.; Uehara, S.; Uglov, T.; Unno, Y.; Uno, S.; Vahsen, S.E.; Varner, G.; Varvell, K.E.; Vossen, A.; Wang, C.H.; Wang, M.-Z.; Wang, P.; Watanabe, M.; Watanabe, Y.; Yamashita, Y.; Zhang, Z.P.; Zhou, P.; Zhulanov, V.; Zivko, T.; Zupanc, A.