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Multidirectional X-ray dark-field imaging with two-dimensional gratings

Zanette, I.; Rutishauer, S.; David, C.; Pfeiffer, F.; Mohr, J.; Weitkamp, T.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2012
Sprache Englisch
Identifikator DOI: 10.1063/1.4742262
ISBN: 978-0-7354-1072-5
ISSN: 0094-243X
KITopen ID: 1000043312
HGF-Programm 43.14.02; LK 01
Erschienen in Momose, A. [Hrsg.] Internat.Workshop on X-Ray and Neutron Phase Imaging with Gratings (XNPIG 2012), Tokyo, J, March 5-7, 2012
Verlag AIP
Seiten 12-17
Serie AIP Conference Proceedings ; 1466
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