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Multidirectional X-ray dark-field imaging with two-dimensional gratings

Zanette, I.; Rutishauer, S.; David, C.; Pfeiffer, F.; Mohr, J. 1; Weitkamp, T.
1 Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1063/1.4742262
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Zitationen: 1
Dimensions
Zitationen: 1
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2012
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-0-7354-1072-5
ISSN: 0094-243X
KITopen-ID: 1000043312
HGF-Programm 43.14.02 (POF II, LK 01) X-Ray-Optics
Erschienen in Internat. Workshop on X-Ray and Neutron Phase Imaging with Gratings (XNPIG 2012), Tokyo, J, March 5-7, 2012. Ed.: A. Momose
Verlag American Institute of Physics (AIP)
Seiten 12-17
Serie AIP Conference Proceedings ; 1466
Nachgewiesen in Dimensions
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