Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Industrielle Informationstechnik (IIIT) |
Publikationstyp | Hochschulschrift |
Publikationsjahr | 2014 |
Sprache | Deutsch |
Identifikator | ISBN: 978-3-7315-0273-9 ISSN: 2190-6629 urn:nbn:de:0072-434156 KITopen-ID: 1000043415 |
Verlag | KIT Scientific Publishing |
Umfang | XI, 222 S. |
Serie | Forschungsberichte aus der Industriellen Informationstechnik / Institut für Industrielle Informationstechnik (IIIT), Karlsruher Institut für Technologie ; 10 |
Art der Arbeit | Dissertation |
Fakultät | Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik (ETIT) |
Institut | Institut für Industrielle Informationstechnik (IIIT) |
Prüfungsdaten | 17.09.2014 |
Schlagwörter | Sichtprüfung, hyperspektral, Inspektionssystem, Klassifikation, Material, visual inspection, hyperspectral, material, classification |
Nachgewiesen in | OpenAlex |
Referent/Betreuer | León, F. Puente |