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Materialklassifikation in optischen Inspektionssystemen mithilfe hyperspektraler Daten

Michelsburg, Matthias

Abstract:

In dieser Arbeit werden verschiedene Methoden zur Materialklassifikation mithilfe hyperspektraler Bildaufnahmen im Nahinfrarotbereich untersucht. Dabei wird insbesondere auf den Entwurf von problemangepassten Kamerasystemen und die Wahl optimaler optischer Filter eingegangen. Zusätzlich wird eine Methode zur Fusion mehrerer Kamerasignale mithilfe der spektralen Entmischung vorgestellt.

Abstract (englisch):

In this work, different methods for material classification by hyperspectral images in the near infrared range are investigated. Specifically, the design of problem-adapted camera systems and the choice of optimal optical filters are discussed. In addition, a method for the fusion of multiple camera signals by spectral unmixing is presented.


Volltext §
DOI: 10.5445/KSP/1000043415
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Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Industrielle Informationstechnik (IIIT)
Publikationstyp Hochschulschrift
Publikationsjahr 2014
Sprache Deutsch
Identifikator ISBN: 978-3-7315-0273-9
ISSN: 2190-6629
urn:nbn:de:0072-434156
KITopen-ID: 1000043415
Verlag KIT Scientific Publishing
Umfang XI, 222 S.
Serie Forschungsberichte aus der Industriellen Informationstechnik / Institut für Industrielle Informationstechnik (IIIT), Karlsruher Institut für Technologie ; 10
Art der Arbeit Dissertation
Fakultät Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik (ETIT)
Institut Institut für Industrielle Informationstechnik (IIIT)
Prüfungsdaten 17.09.2014
Schlagwörter Sichtprüfung, hyperspektral, Inspektionssystem, Klassifikation, Material, visual inspection, hyperspectral, material, classification
Referent/Betreuer León, F. Puente
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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