Alignment of the CMS silicon strip tracker during stand-alone commissioning

Adam, W.; Bergauer, T.; Dragicevic, M.; Friedl, M.; Fruehwirth, R.; Haensel, S.; Hrubec, J.; Krammer, M.; Oberegger, M.; Pernicka, M.; Schmid, S.; Stark, R.; Steininger, H.; Uhl, D.; Waltenberger, W.; Widl, E.; Mechelen, P. Van; Cardaci, M.; Beaumont, W.; Langhe, E. de; Wolf, E. A. de; Delmeire, E.; Hashemi, M.; Bouhali, O.; Charaf, O.; Clerbaux, B.; Dewulf, J.-P.; Elgammal, S.; Hammad, G.; Lentdecker, G. de; Marage, P.; Velde, C. Vander; Vanlaer, P.; Wickens, J.; Adler, V.; Devroede, O.; De Weirdt, S.; D'Hondt, J.; Goorens, R.; Heyninck, J.; Maes, J.; Mozer, M.; Tavernier, S.; Van Lancker, L.; Van Mulders, P.; Villella, I.; Wastiels, C.; Bonnet, J.-L.; Bruno, G.; De Callatay, B.; Florins, B.; Giammanco, A.; Gregoire, G.; Keutgen, Th.; Kcira, D.; Lemaitre, V.; Michotte, D.; Militaru, O.; Piotrzkowski, K.; Quertermont, L.; Roberfroid, V.; Rouby, X.; Teyssier, D.; Daubie, E.; Anttila, E.; Czellar, S.; Engstrom, P.; Harkonen, J.; Karimaki, V.; Kostesmaa, J.; Kuronen, A.; Lampen, T.; Linden, T.; Luukka, P.-R.; Maenaa, T.; Michal, S.; Tuominen, E.; Tuominiemi, J.; Ageron, M.; Baulieu, G.; Bonnevaux, A.; Boudoul, G.; Chabanat, E.; Chabert, E.; Chierici, R.; Contardo, D.; Della Negra, R.; Dupasquier, T.; Gelin, G.; Giraud, N.; Guillot, G.; Estre, N.; Haroutunian, R.; Lumb, N.; Perries, S.; Schirra, F.; Trocme, B.; Vanzetto, S.; Agram, J.-L.; Blaes, R.; Drouhin, F.; Ernenwein, J.-P.; Fontaine, J.-C.; Berst, J.-D.; Brom, J.-M.; Didierjean, F.; Goerlach, U.; Graehling, P.; Gross, L.; Hosselet, J.; Juillot, P.; Lounis, A.; Maazouzi, C.; Olivetto, C.; Strub, R.; Van Hove, P.; Anagnostou, G.; Brauer, R.; Esser, H.; Feld, L.; Karpinski, W.; Klein, K.; Kukulies, C.; Olzem, J.; Ostapchuk, A.; Pandoulas, D.; Pierschel, G.; Raupach, F.; Schael, S.; Schwering, G.; Sprenger, D.; Thomas, M.; Weber, M.; Wittmer, B.; Wlochal, M.; Beissel, F.; Bock, E.; Flugge, G.; Gillissen, C.; Hermanns, T.; Heydhausen, D.; Jahn, D.; Kaussen, G.; Linn, A.; Perchalla, L.; Poettgens, M.; Pooth, O.; Stahl, A.; Zoeller, M. H.; Buhmann, P.; Butz, E.; Flucke, G.; Hamdorf, R.; Hauk, J.; Klanner, R.; Pein, U.; Schleper, P.; Steinbrueck, G.; Bluem, P.; De Boer, W.; Dierlamm, A.; Dirkes, G.; Fahrer, M.; Frey, M.; Furgeri, A.; Hartmann, F.; Heier, S.; Hoffmann, K.-H.; Kaminski, J.; Ledermann, B.; Liamsuwan, T.; Mueller, S.; Mueller, Th.; Schilling, F.-P.; Simonis, H.-J.; Steck, P.; Zhukov, V.; Cariola, P.; De Robertis, G.; Ferorelli, R.; Fiore, L.; Preda, M.; Sala, G.; Silvestris, L.; Tempesta, P.; Zito, G.; Creanza, D.; Filippis, N. De; De Palma, M.; Giordano, D.; Maggi, G.; Manna, N.; My, S.; Selvaggi, G.; Albergo, S.; Chiorboli, M.; Costa, S.; Galanti, M.; Giudice, N.; Guardone, N.; Noto, F.; Potenza, R.; Saizu, M. A.; Sparti, V.; Sutera, C.; Tricomi, A.; Tuve, C.; Brianzi, M.; Civinini, C.; Maletta, F.; Manolescu, F.; Meschini, M.; Paoletti, S.; Sguazzoni, G.; Broccolo, B.; Ciulli, V.; Focardi, R. D'Alessandro. E.; Frosali, S.; Genta, C.; Landi, G.; Lenzi, P.; Macchiolo, A.; Magini, N.; Parrini, G.; Scarlini, E.; Cerati, G.; Azzi, P.; Bacchetta, N.; Candelori, A.; Dorigo, T.; Kaminsky, A.; Karaevski, S.; Khomenkov, V.; Reznikov, S.; Tessaro, M.; Bisello, D.; De Mattia, M.; Giubilato, P.; Loreti, M.; Mattiazzo, S.; Nigro, M.; Paccagnella, A.; Pantano, D.; Pozzobon, N.; Tosi, M.; Bilei, G. M.; Checcucci, B.; Fano, L.; Servoli, L.; Ambroglini, F.; Babucci, E.; Benedetti, D.; Biasini, M.; Caponeri, B.; Covarelli, R.; Giorgi, M.; Lariccia, P.; Mantovani, G.; Marcantonini, M.; Postolache, V.; Santocchia, A.; Spiga, D.; Bagliesi, G.; Balestri, G.; Berretta, L.; Bianucci, S.; Boccali, T.; Bosi, F.; Bracci, F.; Castaldi, R.; Ceccanti, M.; Cecchi, R.; Cerri, C.; Cucoanes, A. S.; Dell'Orso, R.; Dobur, D.; Dutta, S.; Giassi, A.; Giusti, S.; Kartashov, D.; Kraan, A.; Lomtadze, T.; Lungu, G. A.; Magazzu, G.; Mammini, P.; Mariani, F.; Martinelli, G.; Moggi, A.; Palla, F.; Palmonari, F.; Petragnani, G.; Profeti, A.; Raffaelli, F.; Rizzi, D.; Sanguinetti, G.; Sarkar, S.; Sentenac, D.; Serban, A. T.; Slav, A.; Soldani, A.; Spagnolo, P.; Tenchini, R.; Tolaini, S.; Venturi, A.; Verdini, P. G.; Vos, M.; Zaccarelli, L.; Avanzini, C.; Basti, A.; Benucci, L.; Bocci, A.; Cazzola, U.; Fiori, F.; Linari, S.; Massa, M.; Messineo, A.; Segneri, G.; Tonelli, G.; Azzurri, P.; Bernardini, J.; Borrello, L.; Calzolari, F.; Foa, L.; Gennai, S.; Ligabue, F.; Petrucciani, G.; Rizzi, A.; Yang, Z.; Benotto, F.; Demaria, N.; Dumitrache, F.; Farano, R.; Borgia, M. A.; Castello, R.; Costa, M.; Migliore, E.; Romero, A.; Abbaneo, D.; Abbas, M.; Ahmed, I.; Akhtar, I.; Albert, E.; Bloch, C.; Breuker, H.; Butt, S.; Buchmuller, O.; Cattai, A.; Delaere, C.; Delattre, M.; Edera, L. M.; Engstrom, P.; Eppard, M.; Gateau, M.; Gill, K.; Giolo-Nicollerat, A.-S.; Grabit, R.; Honma, A.; Huhtinen, M.; Kloukinas, K.; Kortesmaa, J.; Kottelat, L. J.; Kuronen, A.; Leonardo, N.; Ljuslin, C.; Mannelli, M.; Masetti, L.; Marchioro, A.; Mersi, S.; Michal, S.; Mirabito, L.; Muffat-Joly, J.; Onnela, A.; Paillard, C.; Pal, I.; Pernot, J. F.; Petagna, P.; Petit, P.; Piccut, C.; Pioppi, M.; Postema, H.; Ranieri, R.; Ricci, D.; Rolandi, G.; Ronga, F.; Sigaud, C.; Syed, A.; Siegrist, P.; Tropea, P.; Troska, J.; Tsirou, A.; Donckt, M. Vander; Vasey, F.; Alagoz, E.; Amsler, C.; Chiochia, V.; Regenfus, C.; Robmann, P.; Rochet, J.; Rommerskirchen, T.; Schmidt, A.; Steiner, S.; Wilke, L.; Church, I.; Cole, J.; Coughlan, J.; Gay, A.; Taghavi, S.; Tomalin, I.; Bainbridge, R.; Cripps, N.; Fulcher, J.; Hall, G.; Noy, M.; Pesaresi, M.; Radicci, V.; Raymond, D. M.; Sharp, P.; Stoye, M.; Wingham, M.; Zorba, O.; Goitom, I.; Hobson, P. R.; Reid, I.; Teodorescu, L.; Hanson, G.; Jeng, G.-Y.; Liu, H.; Pasztor, G.; Satpathy, A.; Stringer, R.; Mangano, B.; Affolder, K.; Affolder, T.; Allen, A.; Barge, D.; Burke, S.; Callahan, D.; Campagnari, C.; Crook, A.; D'Alfonso, M.; Dietch, J.; Garberson, J.; Hale, D.; Incandela, H.; Incandela, J.; Jaditz, S.; Kalavase, P.; Kreyer, S.; Kyre, S.; Lamb, J.; Mc Guinness, C.; Mills, C.; Nguyen, H.; Nikolic, M.; Lowette, S.; Rebassoo, F.; Ribnik, J.; Richman, J.; Rubinstein, N.; Sanhueza, S.; Shah, Y.; Simms, L.; Staszak, D.; Stoner, J.; Stuart, D.; Swain, S.; Vlimant, J.-R.; White, D.; Ulmer, K. A.; Wagner, S. R.; Bagby, L.; Bhat, P. C.; Burkett, K.; Cihangir, S.; Gutsche, O.; Jensen, H.; Johnson, M.; Luzhetskiy, N.; Mason, D.; Miao, T.; Moccia, S.; Noeding, C.; Ronzhin, A.; Skup, E.; Spalding, W. J.; Spiegel, L.; Tkaczyk, S.; Yumiceva, F.; Zatserklyaniy, A.; Zerev, E.; Anghel, I.; Bazterra, V. E.; Gerber, C. E.; Khalatian, S.; Shabalina, E.; Baringer, P.; Bean, A.; Chen, J.; Hinchey, C.; Martin, C.; Moulik, T.; Robinson, R.; Gritsan, A. V.; Lae, C. K.; Tran, N. V.; Everaerts, P.; Hahn, K. A.; Harris, P.; Nahn, S.; Rudolph, M.; Sung, K.; Betchart, B.; Demina, R.; Gotra, Y.; Korjenevski, S.; Miner, D.; Orbaker, D.; Christofek, L.; Hooper, R.; Landsberg, G.; Nguyen, D.; Narain, M.; Speer, T.; Tsang, K. V.

doi:10.1088/1748-0221/4/07/T07001

Alignment of the CMS silicon strip tracker during stand-alone commissioning

Adam, W.; Bergauer, T.; Dragicevic, M.; Friedl, M.; Fruehwirth, R.; Haensel, S.; Hrubec, J.; Krammer, M.; Oberegger, M.; Pernicka, M.; Schmid, S.; Stark, R.; Steininger, H.; Uhl, D.; Waltenberger, W.; Widl, E.; Mechelen, P. Van; Cardaci, M.; Beaumont, W.; ... mehr

Externe Links

Download

Originalveröffentlichung
DOI: 10.1088/1748-0221/4/07/T07001

Scopus
Zitationen: 15

Web of Science
Zitationen: 8

Dimensions
Zitationen: 13

Export

Statistiken

Seitenaufrufe: 53
seit 06.05.2018

Zugehörige Institution(en) am KIT	Fakultät für Physik – Institut für Experimentelle Kernphysik (IEKP)
Publikationstyp	Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr	2009
Sprache	Englisch
Identifikator	ISSN: 1748-0221 KITopen-ID: 1000043497
Erschienen in	Journal of Instrumentation
Verlag	Institute of Physics Publishing Ltd (IOP Publishing Ltd)
Band	4
Heft	7
Seiten	T07001
Nachgewiesen in	Dimensions Web of Science Scopus

Repository KITopen

Alignment of the CMS silicon strip tracker during stand-alone commissioning