Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Angewandte Materialien - Zuverlässigkeit von Bauteilen und Systemen (IAM-ZBS) Institut für Prozessdatenverarbeitung und Elektronik (IPE) |
Publikationstyp | Hochschulschrift |
Publikationsjahr | 2014 |
Sprache | Englisch |
Identifikator | ISBN: 978-3-7315-0280-7 ISSN: 2192-9963 urn:nbn:de:0072-435209 KITopen-ID: 1000043520 |
HGF-Programm | 46.98.30 (POF II, LK 01) PORTFOLIOTHEMEN SUCO |
Verlag | KIT Scientific Publishing |
Umfang | VI, 136 S. |
Serie | Schriftenreihe des Instituts für Angewandte Materialien, Karlsruher Institut für Technologie ; 44 |
Art der Arbeit | Dissertation |
Prüfungsdaten | 09.07.2014 |
Schlagwörter | Phasenfeld, Kornwachstum, Wachstumsratenverteilung, Parallelisierung, Rekristallisation, Phase-field, Grain growth, Growth rate distributions, Parallelization, Recrystallization |