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Grain growth behavior and efficient large scale simulations of recrystallization with the phase-field method

Vondrous, Alexander

Abstract:
This book summarizes the found insights of grain growth behavior, of multidimensional decomposition for regular grids to efficiently parallelize computing and how to simulate recrystallization by coupling the finite element method with the phase-field method for microstructure texture analysis. The frame of the book is created by the phase-field method, which is the tool used in this work, to investigate microstructure phenomena.

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Volltext §
DOI: 10.5445/KSP/1000043520
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Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien - Zuverlässigkeit von Bauteilen und Systemen (IAM-ZBS)
Institut für Prozessdatenverarbeitung und Elektronik (IPE)
Publikationstyp Hochschulschrift
Jahr 2014
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-3-7315-0280-7
ISSN: 2192-9963
urn:nbn:de:0072-435209
KITopen-ID: 1000043520
HGF-Programm 46.98.30 (POF II, LK 01)
Verlag KIT Scientific Publishing, Karlsruhe
Umfang VI, 136 S.
Serie Schriftenreihe des Instituts für Angewandte Materialien, Karlsruher Institut für Technologie ; 44
Abschlussart Dissertation
Prüfungsdaten 09.07.2014
Schlagworte Phasenfeld, Kornwachstum, Wachstumsratenverteilung, Parallelisierung, Rekristallisation Phase-field, Grain growth, Growth rate distributions, Parallelization, Recrystallization
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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