KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

In Situ Diffraction Measurements: Challenges, Instrumentation, and Examples

Ehrenberg, H.; Senyshyn, A.; Hinterstein, M.; Fuess, H.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien - Energiespeichersysteme (IAM-ESS)
Institut für Anorganische Chemie (AOC)
Publikationstyp Buchaufsatz
Jahr 2013
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-3-527-32279-4
KITopen ID: 1000043559
HGF-Programm 43.15.02; LK 01
Erschienen in Modern Diffraction Measurements. Ed.: E. J. Mittemeijer
Verlag Wiley-VCH, Weinheim
Seiten 491-515
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft KITopen Landing Page