Hybrid Fault Tolerance Techniques to Detect Transient Faults in Embedded Processors
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technik der Informationsverarbeitung (ITIV) |
| Publikationstyp | Hochschulschrift |
| Publikationsjahr | 2014 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 1000043610 |
| Verlag | Springer |
| Umfang | XVIII, 94 S. |
| Art der Arbeit | Dissertation |
| Fakultät | Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik (ETIT) |
| Institut | Institut für Technik der Informationsverarbeitung (ITIV) |
| Prüfungsdatum | 27.09.2013 |
| Referent/Betreuer | Kastensmidt, F. |