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Hybrid Fault Tolerance Techniques to Detect Transient Faults in Embedded Processors

Azambuja, José Rodrigo



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technik der Informationsverarbeitung (ITIV)
Publikationstyp Hochschulschrift
Jahr 2014
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 1000043610
Verlag Springer, Cham
Umfang XVIII, 94 S.
Abschlussart Dissertation
Fakultät Fakultät für Elektrotechnik und Informationstechnik (ETIT)
Institut Institut für Technik der Informationsverarbeitung (ITIV)
Prüfungsdatum 27.09.2013
Referent/Betreuer Prof. F. Kastensmidt
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft KITopen Landing Page