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A compact sub-Kelvin ultrahigh vacuum scanning tunneling microscope with high energy resolution and high stability

Zhang, L.; Miyamachi, T.; Tomanic, T.; Dehm, R.; Wulfhekel, W.



Originalveröffentlichung
DOI: 10.1063/1.3646468
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Zitationen: 39
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Zitationen: 37
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Zitationen: 39
Zugehörige Institution(en) am KIT Physikalisches Institut (PHI)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2011
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0034-6748
KITopen-ID: 1000044059
Erschienen in Review of Scientific Instruments
Verlag American Institute of Physics (AIP)
Band 82
Heft 10
Seiten 103702
Nachgewiesen in Dimensions
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