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A compact sub-Kelvin ultrahigh vacuum scanning tunneling microscope with high energy resolution and high stability

Zhang, L.; Miyamachi, T.; Tomanic, T.; Dehm, R.; Wulfhekel, W.



Zugehörige Institution(en) am KIT Physikalisches Institut (PHI)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2011
Sprache Englisch
Identifikator DOI: 10.1063/1.3646468
ISSN: 0034-6748
KITopen ID: 1000044059
Erschienen in Review of Scientific Instruments
Band 82
Heft 10
Seiten 103702
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