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Electronic structure investigations of ultrathin EuxSi1-x films, nano-islands, and nano-wires by XANES and EXAFS on the Eu L3 edge

Stankov, S.; Seiler,A.; Bauder, O.; Ibrahimkutty, S.

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Volltext §
DOI: 10.5445/IR/1000044101
Seitenaufrufe: 20
seit 12.05.2018
Zugehörige Institution(en) am KIT Laboratorium für Applikationen der Synchrotronstrahlung (LAS)
Publikationstyp Buchaufsatz
Jahr 2014
Sprache Englisch
Identifikator urn:nbn:de:swb:90-443326
KITopen-ID: 1000044332
Erschienen in ANKA User Reports 2012/2013
Verlag KIT, Karlsruhe
Seiten 222-223
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