KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

Electronic structure investigations of ultrathin EuxSi1-x films, nano-islands, and nano-wires by XANES and EXAFS on the Eu L3 edge

Stankov, S.; Seiler, A.; Bauder, O.; Ibrahimkutty, S.


Volltext §
DOI: 10.5445/IR/1000044101
Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Laboratorium für Applikationen der Synchrotronstrahlung (LAS)
Publikationstyp Buchaufsatz
Publikationsjahr 2014
Sprache Englisch
Identifikator urn:nbn:de:swb:90-443326
KITopen-ID: 1000044332
HGF-Programm 55.51.10 (POF I, LK 01)
Erschienen in ANKA User Reports 2012/2013
Verlag Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
Seiten 222-223
Relationen in KITopen
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
KITopen Landing Page