Electronic structure investigations of ultrathin EuxSi1-x films, nano-islands, and nano-wires by XANES and EXAFS on the Eu L3 edge
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Laboratorium für Applikationen der Synchrotronstrahlung (LAS) |
| Publikationstyp | Buchaufsatz |
| Publikationsjahr | 2014 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | urn:nbn:de:swb:90-443326 KITopen-ID: 1000044332 |
| HGF-Programm | 55.51.10 (POF I, LK 01) |
| Erschienen in | ANKA User Reports 2012/2013 |
| Verlag | Karlsruher Institut für Technologie (KIT) |
| Seiten | 222-223 |
| Relationen in KITopen |