Quality metrics in optical modulation analysis: EVM and its relation to Q-factor, OSNR, and BER

Nebendahl, B.; Schmogrow, R.; Dennis, T.; Josten, A.; Hillerkuss, D.; Koenig, S.; Meyer, J.; Dreschmann, M.; Winter, M.; Huebner, M.; Freude, W.; Koos, C.; Leuthold, J.

Quality metrics in optical modulation analysis: EVM and its relation to Q-factor, OSNR, and BER

Nebendahl, B. ¹; Schmogrow, R.; Dennis, T.; Josten, A.; Hillerkuss, D.; Koenig, S.; Meyer, J.; Dreschmann, M.; Winter, M.; Huebner, M.; Freude, W.; Koos, C.; Leuthold, J.
¹ Karlsruher Institut für Technologie (KIT)

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Photonik und Quantenelektronik (IPQ) Universität Karlsruhe (TH) – Interfakultative Einrichtungen (Interfakultative Einrichtungen) Karlsruhe School of Optics & Photonics (KSOP)
Publikationstyp	Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr	2012
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 1000044851
Erschienen in	Asia Communications and Photonics Conference, ACP 2012; Guangzhou; China; 7 November 2012 through 10 November 2012
Seiten	AF3G.2
Nachgewiesen in	Scopus

Repository KITopen

Quality metrics in optical modulation analysis: EVM and its relation to Q-factor, OSNR, and BER