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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1017/S1431927613013913
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Sample thickness determination by scanning transmission electron microscopy at low electron energies

Volkenandt, T.; Müller, E.; Gerthsen, D.



Zugehörige Institution(en) am KIT Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2014
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1431-9276
KITopen-ID: 1000045581
Erschienen in Microscopy and Microanalysis
Band 20
Heft 1
Seiten 111-123
Nachgewiesen in Scopus
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