Sample thickness determination by scanning transmission electron microscopy at low electron energies
Volkenandt, T. 1; Müller, E.
1; Gerthsen, D. 1
1 Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
1; Gerthsen, D. 11 Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM) Universität Karlsruhe (TH) – Zentrale Einrichtungen (Zentrale Einrichtungen) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2014 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 1431-9276 KITopen-ID: 1000045581 |
| Erschienen in | Microscopy and Microanalysis |
| Verlag | Cambridge University Press (CUP) |
| Band | 20 |
| Heft | 1 |
| Seiten | 111-123 |
| Nachgewiesen in | Dimensions Scopus Web of Science |