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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1063/1.4865742
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Electron microscopic evidence for a tribologically induced phase transformation as the origin of wear in diamond

Zhang, X.; Schneider, R.; Müller, E.; Mee, M.; Meier, S.; Gumbsch, P.; Gerthsen, D.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien - Computational Materials Science (IAM-CMS)
Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2014
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0021-8979
KITopen ID: 1000045586
Erschienen in Journal of Applied Physics
Band 115
Heft 6
Seiten 063508
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