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Backscattered electron SEM imaging of cells and determination of the information depth

Seiter, J.; Müller, E.; Blank, H.; Gehrke, H.; Marko, D.; Gerthsen, D.



Zugehörige Institution(en) am KIT Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2014
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0022-2720
KITopen ID: 1000045587
Erschienen in Journal of Microscopy
Band 254
Heft 2
Seiten 75-83
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