Backscattered electron SEM imaging of cells and determination of the information depth
Seiter, J. 1; Müller, E.
1; Blank, H. 1; Gehrke, H.; Marko, D.; Gerthsen, D. 1
1 Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
1; Blank, H. 1; Gehrke, H.; Marko, D.; Gerthsen, D. 11 Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM) Universität Karlsruhe (TH) – Zentrale Einrichtungen (Zentrale Einrichtungen) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2014 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 0022-2720 KITopen-ID: 1000045587 |
| Erschienen in | Journal of Microscopy |
| Verlag | John Wiley and Sons |
| Band | 254 |
| Heft | 2 |
| Seiten | 75-83 |
| Nachgewiesen in | Scopus Dimensions Web of Science |
| Globale Ziele für nachhaltige Entwicklung |