Basal plane stacking faults in semipolar AlGaN: Hints to Al redistribution
Tischer, I.; Frey, M.; Hocker, M.; Jerg, L.; Madel, M.; Neuschl, B.; Thonke, K.; Leute, R. R.; Scholz, F.; Groiss, H. 1; Müller, E.
1; Gerthsen, D. 1
1 Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
1; Gerthsen, D. 11 Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM) Universität Karlsruhe (TH) – Zentrale Einrichtungen (Zentrale Einrichtungen) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2014 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 0370-1972 KITopen-ID: 1000045593 |
| Erschienen in | Physica Status Solidi (B) Basic Research |
| Verlag | John Wiley and Sons |
| Band | 251 |
| Heft | 11 |
| Seiten | 2321-2325 |
| Nachgewiesen in | Dimensions Scopus Web of Science |