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Basal plane stacking faults in semipolar AlGaN: Hints to Al redistribution

Tischer, I.; Frey, M.; Hocker, M.; Jerg, L.; Madel, M.; Neuschl, B.; Thonke, K.; Leute, R.R.; Scholz, F.; Groiss, H.; Müller, E.; Gerthsen, D.



Zugehörige Institution(en) am KIT Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2014
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0370-1972
KITopen ID: 1000045593
Erschienen in Physica Status Solidi (B) Basic Research
Band 251
Heft 11
Seiten 2321-2325
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