Resilience Articulation Point (RAP): Cross-layer dependability modeling for nanometer system-on-chip resilience

Herkersdorf, Andreas; Aliee, Hananeh; Engel, Michael; Glass, Michael; Gimmler-Dumont, Christina; Henkel, Jörg; Kleeberger, Veit B.; Kochte, Michael A.; Kühn, Johannes M.; Mueller-Gritschneder, Daniel; Nassif, Sani R.; Rauchfuss, Holm; Rosenstiel, Wolfgang; Schlichtmann, Ulf; Shafique, Muhammad; Tahoori, Mehdi B.; Teich, Jürgen; Wehn, Norbert; Weis, Christian; Wunderlich, Hans-Joachim

doi:10.1016/j.microrel.2013.12.012

Externe Links

Originalveröffentlichung
DOI: 10.1016/j.microrel.2013.12.012

Scopus
Zitationen: 12

Web of Science
Zitationen: 8

Export

Statistiken

Seitenaufrufe: 3
seit 12.05.2018

Cover

Resilience Articulation Point (RAP): Cross-layer dependability modeling for nanometer system-on-chip resilience

Herkersdorf, Andreas; Aliee, Hananeh; Engel, Michael; Glass, Michael; Gimmler-Dumont, Christina; Henkel, Jörg; Kleeberger, Veit B.; Kochte, Michael A.; Kühn, Johannes M.; Mueller-Gritschneder, Daniel; Nassif, Sani R.; Rauchfuss, Holm; Rosenstiel, Wolfgang; Schlichtmann, Ulf; Shafique, Muhammad; Tahoori, Mehdi B.; Teich, Jürgen; Wehn, Norbert; Weis, Christian; Wunderlich, Hans-Joachim

Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp	Zeitschriftenaufsatz
Jahr	2014
Sprache	Englisch
Identifikator	ISSN: 0026-2714 KITopen ID: 1000045651
Erschienen in	Microelectronics Reliability
Band	54
Heft	6-7
Seiten	1066-1074

Repository KITopen

Resilience Articulation Point (RAP): Cross-layer dependability modeling for nanometer system-on-chip resilience