Resilience Articulation Point (RAP): Cross-layer dependability modeling for nanometer system-on-chip resilience
Herkersdorf, Andreas; Aliee, Hananeh; Engel, Michael; Glass, Michael; Gimmler-Dumont, Christina; Henkel, Jörg; Kleeberger, Veit B.; Kochte, Michael A.; Kühn, Johannes M.; Mueller-Gritschneder, Daniel; Nassif, Sani R.; Rauchfuss, Holm; Rosenstiel, Wolfgang; Schlichtmann, Ulf; Shafique, Muhammad; Tahoori, Mehdi B.; Teich, Jürgen; Wehn, Norbert; Weis, Christian; Wunderlich, Hans-Joachim
Zugehörige Institution(en) am KIT |
Institut für Technische Informatik (ITEC)
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Publikationstyp |
Zeitschriftenaufsatz |
Jahr |
2014 |
Sprache |
Englisch |
Identifikator |
ISSN: 0026-2714
KITopen ID: 1000045651 |
Erschienen in |
Microelectronics Reliability |
Band |
54 |
Heft |
6-7 |
Seiten |
1066-1074 |