Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) |
Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
Publikationsjahr | 2014 |
Sprache | Englisch |
Identifikator | ISSN: 0026-2714 KITopen-ID: 1000045651 |
Erschienen in | Microelectronics Reliability |
Verlag | Elsevier |
Band | 54 |
Heft | 6-7 |
Seiten | 1066-1074 |
Nachgewiesen in | Scopus Dimensions Web of Science |