Resilience Articulation Point (RAP): Cross-layer dependability modeling for nanometer system-on-chip resilience

Herkersdorf, Andreas; Aliee, Hananeh; Engel, Michael; Glass, Michael; Gimmler-Dumont, Christina; Henkel, Jörg; Kleeberger, Veit B.; Kochte, Michael A.; Kühn, Johannes M.; Mueller-Gritschneder, Daniel; Nassif, Sani R.; Rauchfuss, Holm; Rosenstiel, Wolfgang; Schlichtmann, Ulf; Shafique, Muhammad; Tahoori, Mehdi B.; Teich, Jürgen; Wehn, Norbert; Weis, Christian; Wunderlich, Hans-Joachim

doi:10.1016/j.microrel.2013.12.012

Resilience Articulation Point (RAP): Cross-layer dependability modeling for nanometer system-on-chip resilience

Herkersdorf, Andreas; Aliee, Hananeh; Engel, Michael; Glass, Michael; Gimmler-Dumont, Christina; Henkel, Jörg ¹; Kleeberger, Veit B.; Kochte, Michael A.; Kühn, Johannes M.; Mueller-Gritschneder, Daniel; Nassif, Sani R.; Rauchfuss, Holm; Rosenstiel, Wolfgang; Schlichtmann, Ulf; Shafique, Muhammad ¹; Tahoori, Mehdi B. ¹; Teich, Jürgen; Wehn, Norbert; Weis, Christian; ... mehr

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp	Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr	2014
Sprache	Englisch
Identifikator	ISSN: 0026-2714 KITopen-ID: 1000045651
Erschienen in	Microelectronics Reliability
Verlag	Elsevier
Band	54
Heft	6-7
Seiten	1066-1074
Nachgewiesen in	OpenAlex Web of Science Scopus Dimensions

Repository KITopen

Resilience Articulation Point (RAP): Cross-layer dependability modeling for nanometer system-on-chip resilience