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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1016/j.microrel.2013.12.012
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Resilience Articulation Point (RAP): Cross-layer dependability modeling for nanometer system-on-chip resilience

Herkersdorf, Andreas; Aliee, Hananeh; Engel, Michael; Glass, Michael; Gimmler-Dumont, Christina; Henkel, Jörg; Kleeberger, Veit B.; Kochte, Michael A.; Kühn, Johannes M.; Mueller-Gritschneder, Daniel; Nassif, Sani R.; Rauchfuss, Holm; Rosenstiel, Wolfgang; Schlichtmann, Ulf; Shafique, Muhammad; Tahoori, Mehdi B.; Teich, Jürgen; Wehn, Norbert; Weis, Christian; Wunderlich, Hans-Joachim



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2014
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0026-2714
KITopen ID: 1000045651
Erschienen in Microelectronics Reliability
Band 54
Heft 6-7
Seiten 1066-1074
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