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Approaches to sensitivity analysis for system reliability study of smart structures for active vibration reduction

Li, Y.; Pfeiffer, T.; Nuffer, J.; Bös, J.; Hanselka, H.



Zugehörige Institution(en) am KIT Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2012
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-0-9763486-8-9
KITopen ID: 1000045667
Erschienen in 18th ISSAT International Conference on Reliability and Quality in Design; Boston, MA; United States; 26 July 2012 through 28 July 2012
Verlag The International Society of Science and Applied Technologies
Seiten 12-17
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