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Potential-induced degradation in solar cells: Electronic structure and diffusion mechanism of sodium in stacking faults of silicon

Ziebarth, Benedikt 1; Mrovec, Matous; Elsässer, Christian; Gumbsch, Peter 1
1 Institut für Angewandte Materialien - Zuverlässigkeit von Bauteilen und Systemen (IAM-ZBS), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1063/1.4894007
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Zitationen: 44
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Zitationen: 48
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien – Computational Materials Science (IAM-CMS)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2014
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0021-8979, 0148-6349, 1089-7550, 1520-8850, 2163-5102
KITopen-ID: 1000045953
Erschienen in Journal of applied physics
Verlag American Institute of Physics (AIP)
Band 116
Heft 9
Seiten 093510
Nachgewiesen in Web of Science
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