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dTune: Leveraging reliable code generation for adaptive dependability tuning under process variation and aging-induced effects

Rehman, S.; Kriebel, F.; Sun, D.; Shafique, M.; Henkel, J.


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1145/2593069.2593127
Dimensions
Zitationen: 36
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2014
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-4503-2730-5
KITopen-ID: 1000046264
Erschienen in 51st ACM/EDAC/IEEE Design Automation Conference (DAC'14), San Francisco, California/USA, June 1-5, 2014
Verlag Association for Computing Machinery (ACM)
Seiten 1-6
Nachgewiesen in Dimensions
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