KIT | KIT-Bibliothek | Impressum
Originalveröffentlichung
DOI: 10.1145/2593069.2593127

dTune: Leveraging reliable code generation for adaptive dependability tuning under process variation and aging-induced effects

Rehman, S.; Kriebel, F.; Sun, D.; Shafique, M.; Henkel, J.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2014
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-4503-2730-5
KITopen ID: 1000046264
Erschienen in 51st ACM/EDAC/IEEE Design Automation Conference (DAC'14), San Francisco, California/USA, June 1-5, 2014
Verlag ACM, New York (NY)
Seiten 1-6
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft KITopen Landing Page