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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1145/2593069.2596683

Multi-layer dependability: From microarchitecture to application level

Henkel, J.; Bauer, L.; Zhang, H.; Rehman, S.; Shafique, M.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2014
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-4503-2730-5
KITopen-ID: 1000046267
Erschienen in 51st ACM/EDAC/IEEE Design Automation Conference (DAC'14), San Francisco, California/USA, June 1-5, 2014
Verlag ACM, New York (NY)
Seiten 1-6
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