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Originalveröffentlichung
DOI: 10.7873/DATE.2014.119

Compiler-driven dynamic reliability management for on-chip systems under variabilities

Rehman, S.; Kriebel, F.; Shafique, M.; Henkel, J.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2014
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-4799-3297-9
KITopen ID: 1000046270
Erschienen in Design, Automation and Test in Europe Conference and Exhibition (DATE'14), Dresden, March 24-28, 2014
Verlag IEEE, Piscataway (NJ)
Seiten 1-4
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