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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/TEST.2014.7035342

Read disturb fault detection in STT-MRAM

Bishnoi, R.; Ebrahimi, M.; Oboril, F.; Tahoori, M. B.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2014
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-4799-4722-5
KITopen ID: 1000046289
Erschienen in IEEE International Test Conference (ITC'14) Seattle, Washington/USA, October 20-23, 2014
Verlag IEEE, Piscataway (NJ)
Seiten 1-7
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