Read disturb fault detection in STT-MRAM
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2014 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-1-4799-4722-5 KITopen-ID: 1000046289 |
| Erschienen in | IEEE International Test Conference (ITC'14) Seattle, Washington/USA, October 20-23, 2014 |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Seiten | 1-7 |
| Nachgewiesen in | Dimensions |