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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/ISVLSI.2014.119

Chip Health Monitoring Using Machine Learning

Firouzi, F.; Fangming, Y.; Chakrabarty, K.; Tahoori, M. B.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2014
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-4799-3763-9
KITopen ID: 1000046290
Erschienen in IEEE Computer Society Annual Symposium on VLSI (ISVLSI'14), Tamba, Florida/USA, July 9-11, 2014
Verlag IEEE, Piscataway (NJ)
Seiten 280-283
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