Radiation-induced soft error analysis of SRAMs in SOI FinFET technology: A device to circuit approach
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2014 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-1-4503-2730-5 KITopen-ID: 1000046295 |
| Erschienen in | 51st ACM/EDAC/IEEE Design Automation Conference (DAC'14), San Francisco, California/USA, June 1-5, 2014 |
| Verlag | Association for Computing Machinery (ACM) |
| Seiten | 1-6 |
| Nachgewiesen in | Dimensions |