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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1145/2593069.2593196

Radiation-induced soft error analysis of SRAMs in SOI FinFET technology: A device to circuit approach

Kiamehr, S.; Osiecki, T.; Tahoori, M.; Nassif, S.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2014
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-4503-2730-5
KITopen ID: 1000046295
Erschienen in 51st ACM/EDAC/IEEE Design Automation Conference (DAC'14), San Francisco, California/USA, June 1-5, 2014
Verlag ACM, New York (NY)
Seiten 1-6
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