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Quantitative evaluation of register vulnerabilities in RTL control paths

Chen, L.; Ebrahimi, M.; Tahoori, M. B.


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/ETS.2014.6847837
Dimensions
Zitationen: 2
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2014
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-4799-3416-4
KITopen-ID: 1000046306
Erschienen in Test Symposium (ETS), 2014 19th IEEE European Test Symposium (ETS'14), Paderborn, May 26-30, 2014
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Seiten 227-228
Nachgewiesen in Dimensions
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