Self-heating thermal-aware testing of FPGAs
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2014 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-1-4799-2612-1 KITopen-ID: 1000046307 |
| Erschienen in | IEEE 32nd VLSI Test Symposium (VTS'14), Napa, California/USA, April 13-17, 2014 |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Seiten | 75-80 |
| Nachgewiesen in | Dimensions |