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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/VTS.2014.6818753

Self-heating thermal-aware testing of FPGAs

Amouri, A.; Hepp, J.; Tahoori, M.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2014
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-4799-2612-1
KITopen ID: 1000046307
Erschienen in IEEE 32nd VLSI Test Symposium (VTS'14), Napa, California/USA, April 13-17, 2014
Verlag IEEE, Piscataway (NJ)
Seiten 75-80
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