Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) |
Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
Publikationsjahr | 2014 |
Sprache | Englisch |
Identifikator | ISBN: 978-1-4799-2612-1 KITopen-ID: 1000046308 |
Erschienen in | IEEE 32nd VLSI Test Symposium (VTS'14), Napa, California/USA, April 13-17, 2014 |
Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
Seiten | 282-287 |
Nachgewiesen in | Dimensions |