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On-chip voltage-droop prediction using support-vector machines

Ye, F.; Firouzi, F.; Yang, Y.; Chakrabarty, K.; Tahoori, M. B.


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/VTS.2014.6818798
Dimensions
Zitationen: 23
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2014
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-4799-2612-1
KITopen-ID: 1000046308
Erschienen in IEEE 32nd VLSI Test Symposium (VTS'14), Napa, California/USA, April 13-17, 2014
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Seiten 282-287
Nachgewiesen in Dimensions
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