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Originalveröffentlichung
DOI: 10.7873/DATE.2014.043

Comprehensive analysis of alpha and neutron particle-induced soft errors in an embedded processor at nanoscales

Ebrahimi, M.; Evans, A.; Tahoori, M. B.; Seyyedi, R.; Costenaro, E.; Alexandrescu, D.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2014
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-4799-3297-9
KITopen-ID: 1000046311
Erschienen in Design, Automation and Test in Europe Conference and Exhibition (DATE'14), Dresden, March 24-28, 2014
Verlag IEEE, Piscataway (NJ)
Seiten 141-146
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