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A Cross-Layer Approach for Soft Error Analysis of SRAMs in SOI FinFET Technology

Kiamehr, S.; Tahoori, M. B.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2014
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 1000046320
Erschienen in 10th Workshop on Silicon Errors in Logic - System Effects (SELSE'14), Stanford, California/USA, April 1-2, 2014
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