A Cross-Layer Approach for Soft Error Analysis of SRAMs in SOI FinFET Technology
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2014 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | KITopen-ID: 1000046320 |
| Erschienen in | 10th Workshop on Silicon Errors in Logic - System Effects (SELSE'14), Stanford, California/USA, April 1-2, 2014 |