Probing the density of states of two-level tunneling systems in silicon oxide films using superconducting lumped element resonators
Skacel, S. T. 1,2; Kaiser, C. 2; Wuensch, S.
2; Rotzinger, H.
1; Lukashenko, A. 1; Jerger, M. 1; Weiss, G. 1; Siegel, M. 2; Ustinov, A. V. 1
1 Physikalisches Institut (PHI), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 Institut für Mikro- und Nanoelektronische Systeme (IMS), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2; Rotzinger, H.
1; Lukashenko, A. 1; Jerger, M. 1; Weiss, G. 1; Siegel, M. 2; Ustinov, A. V. 11 Physikalisches Institut (PHI), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 Institut für Mikro- und Nanoelektronische Systeme (IMS), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Physikalisches Institut (PHI) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2015 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 0003-6951 KITopen-ID: 1000046773 |
| Erschienen in | Applied Physics Letters |
| Verlag | American Institute of Physics (AIP) |
| Band | 106 |
| Heft | 2 |
| Seiten | 022603 |
| Nachgewiesen in | Dimensions Scopus Web of Science |