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Probing the density of states of two-level tunneling systems in silicon oxide films using superconducting lumped element resonators

Skacel, S. T. 1,2; Kaiser, C. 1; Wuensch, S. ORCID iD icon 1; Rotzinger, H. 2; Lukashenko, A. 2; Jerger, M. 2; Weiss, G. 2; Siegel, M. 1; Ustinov, A. V. 2
1 Institut für Mikro- und Nanoelektronische Systeme (IMS), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 Physikalisches Institut (PHI), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1063/1.4905149
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Zitationen: 18
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Zitationen: 19
Dimensions
Zitationen: 18
Zugehörige Institution(en) am KIT Physikalisches Institut (PHI)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2015
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0003-6951
KITopen-ID: 1000046773
Erschienen in Applied Physics Letters
Verlag American Institute of Physics (AIP)
Band 106
Heft 2
Seiten 022603
Nachgewiesen in Dimensions
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