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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1063/1.4905149
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Zitationen: 10

Probing the density of states of two-level tunneling systems in silicon oxide films using superconducting lumped element resonators

Skacel, S.T.; Kaiser, C.; Wuensch, S.; Rotzinger, H.; Lukashenko, A.; Jerger, M.; Weiss, G.; Siegel, M.; Ustinov, A.V.



Zugehörige Institution(en) am KIT Physikalisches Institut (PHI)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2015
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0003-6951
KITopen ID: 1000046773
Erschienen in Applied Physics Letters
Band 106
Heft 2
Seiten 022603
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