Resolution-controlled conductivity discretization in electrical impedance tomography
Winkler, R. 1; Rieder, A.
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1 Institut für Angewandte und Numerische Mathematik (IANM), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
11 Institut für Angewandte und Numerische Mathematik (IANM), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Angewandte und Numerische Mathematik (IANM) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2014 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 1936-4954 KITopen-ID: 1000047098 |
| Erschienen in | SIAM Journal on Imaging Sciences |
| Verlag | Society for Industrial and Applied Mathematics (SIAM) |
| Band | 7 |
| Heft | 4 |
| Seiten | 2048-2077 |
| Nachgewiesen in | OpenAlex Web of Science Scopus Dimensions |