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Resolution-controlled conductivity discretization in electrical impedance tomography

Winkler, R. 1; Rieder, A. ORCID iD icon 1
1 Institut für Angewandte und Numerische Mathematik (IANM), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1137/140958955
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Zitationen: 19
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte und Numerische Mathematik (IANM)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2014
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1936-4954
KITopen-ID: 1000047098
Erschienen in SIAM Journal on Imaging Sciences
Verlag Society for Industrial and Applied Mathematics (SIAM)
Band 7
Heft 4
Seiten 2048-2077
Nachgewiesen in Web of Science
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