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Resolution-controlled conductivity discretization in electrical impedance tomography

Winkler, R.; Rieder, A.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte und Numerische Mathematik (IANM)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2014
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1936-4954
KITopen ID: 1000047098
Erschienen in SIAM Journal on Imaging Sciences
Band 7
Heft 4
Seiten 2048-2077
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