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Transmissionselektronenmikroskopie mit elektrostatischen Zach-Phasenplatten

Hettler, Simon Josef

Abstract:
Elektrostatische Zach-Phasenplatten (PP) erlauben die Kontrastverstärkung von transparenten Objekten in der Transmissionselektronenmikroskopie. In der vorliegenden Arbeit wurde die Herstellung von Zach-PP optimiert und deren Auswirkung auf die Bildentstehung durch Simulationen und Experimente mit verschiedenen Proben analysiert. Die Möglichkeit der Verwendung einer Zach-PP in der Hochauflösung, der Objektwellenrekonstruktion und in Verbindung mit inelastischer Streuung wird aufgezeigt.

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Volltext §
DOI: 10.5445/IR/1000047637
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Zugehörige Institution(en) am KIT Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM)
Publikationstyp Hochschulschrift
Jahr 2015
Sprache Deutsch
Identifikator urn:nbn:de:swb:90-476375
KITopen-ID: 1000047637
Verlag KIT, Karlsruhe
Abschlussart Dissertation
Fakultät Fakultät für Physik (PHYSIK)
Institut Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM)
Prüfungsdaten 08.05.2015
Referent/Betreuer Prof. D. Gerthsen
Schlagworte Transmissionselektronenmikroskopie, Elektrostatische Phasenplatten, Phasenkontrast, Objektwellenrekonstruktion, Inelastische Elektronenstreuung
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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