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Transmissionselektronenmikroskopie mit elektrostatischen Zach-Phasenplatten

Hettler, Simon Josef

Abstract:

Elektrostatische Zach-Phasenplatten (PP) erlauben die Kontrastverstärkung von transparenten Objekten in der Transmissionselektronenmikroskopie. In der vorliegenden Arbeit wurde die Herstellung von Zach-PP optimiert und deren Auswirkung auf die Bildentstehung durch Simulationen und Experimente mit verschiedenen Proben analysiert. Die Möglichkeit der Verwendung einer Zach-PP in der Hochauflösung, der Objektwellenrekonstruktion und in Verbindung mit inelastischer Streuung wird aufgezeigt.


Volltext §
DOI: 10.5445/IR/1000047637
Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM)
Publikationstyp Hochschulschrift
Publikationsjahr 2015
Sprache Deutsch
Identifikator urn:nbn:de:swb:90-476375
KITopen-ID: 1000047637
Verlag Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
Art der Arbeit Dissertation
Fakultät Fakultät für Physik (PHYSIK)
Institut Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM)
Prüfungsdaten 08.05.2015
Schlagwörter Transmissionselektronenmikroskopie, Elektrostatische Phasenplatten, Phasenkontrast, Objektwellenrekonstruktion, Inelastische Elektronenstreuung
Referent/Betreuer Gerthsen, D.
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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