Transmissionselektronenmikroskopie mit elektrostatischen Zach-Phasenplatten
Abstract:
Elektrostatische Zach-Phasenplatten (PP) erlauben die Kontrastverstärkung von transparenten Objekten in der Transmissionselektronenmikroskopie. In der vorliegenden Arbeit wurde die Herstellung von Zach-PP optimiert und deren Auswirkung auf die Bildentstehung durch Simulationen und Experimente mit verschiedenen Proben analysiert. Die Möglichkeit der Verwendung einer Zach-PP in der Hochauflösung, der Objektwellenrekonstruktion und in Verbindung mit inelastischer Streuung wird aufgezeigt.
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM) |
| Publikationstyp | Hochschulschrift |
| Publikationsjahr | 2015 |
| Sprache | Deutsch |
| Identifikator | urn:nbn:de:swb:90-476375 KITopen-ID: 1000047637 |
| Verlag | Karlsruher Institut für Technologie (KIT) |
| Art der Arbeit | Dissertation |
| Fakultät | Fakultät für Physik (PHYSIK) |
| Institut | Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM) |
| Prüfungsdaten | 08.05.2015 |
| Schlagwörter | Transmissionselektronenmikroskopie, Elektrostatische Phasenplatten, Phasenkontrast, Objektwellenrekonstruktion, Inelastische Elektronenstreuung |
| Referent/Betreuer | Gerthsen, D. |