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Microbunching Instability in Relativistic Electron Bunches: Direct Observations of the Microstructures Using Ultrafast YBCO Detectors

Roussel, E.; Evain, C.; Szwaj, C.; Bielawski, S.; Raasch, J. 1; Thoma, P. 1; Scheuring, A. 1; Hofherr, M. 1; Ilin, K. 1; Wünsch, S. ORCID iD icon 1; Siegel, M. 1; Hosaka, M.; Yamamoto, N.; Takashima, Y.; Zen, H.; Konomi, T.; Adachi, M.; Kimura, S.; Katoh, M.
1 Institut für Mikro- und Nanoelektronische Systeme (IMS), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1103/PhysRevLett.113.094801
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Zitationen: 20
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Zitationen: 14
Dimensions
Zitationen: 17
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikro- und Nanoelektronische Systeme (IMS)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2014
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0031-9007
KITopen-ID: 1000047705
Erschienen in Physical Review Letters
Verlag American Physical Society (APS)
Band 113
Heft 9
Seiten 094801
Nachgewiesen in Dimensions
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