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Critical current of Nb, NbN, and TaN thin-film bridges with and without geometrical nonuniformities in a magnetic field

Ilin, K. 1; Henrich, D. 1; Luck, Y. 1; Liang, Y. 1; Siegel, M. 1; Vodolazov, D. Yu.
1 Institut für Mikro- und Nanoelektronische Systeme (IMS), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)

Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikro- und Nanoelektronische Systeme (IMS)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2014
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1098-0121
KITopen-ID: 1000047710
Erschienen in Physical Review B - Condensed Matter and Materials Physics
Verlag American Physical Society (APS)
Band 89
Heft 18
Seiten 184511
Nachgewiesen in Scopus
OpenAlex
Dimensions
Web of Science
Globale Ziele für nachhaltige Entwicklung Ziel 11 – Nachhaltige Städte und Gemeinden

Originalveröffentlichung
DOI: 10.1103/PhysRevB.89.184511
Scopus
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Web of Science
Zitationen: 54
Dimensions
Zitationen: 54
Seitenaufrufe: 97
seit 11.05.2018
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