KIT | KIT-Bibliothek | Impressum

Critical current of Nb, NbN, and TaN thin-film bridges with and without geometrical nonuniformities in a magnetic field

Ilin, K.; Henrich, D.; Luck, Y.; Liang, Y.; Siegel, M.; Vodolazov, D. Yu.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikro- und Nanoelektronische Systeme (IMS)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2014
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1098-0121
KITopen ID: 1000047710
Erschienen in Physical Review B - Condensed Matter and Materials Physics
Band 89
Heft 18
Seiten 184511
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft KITopen Landing Page