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Critical current of Nb, NbN, and TaN thin-film bridges with and without geometrical nonuniformities in a magnetic field

Ilin, K. 1; Henrich, D. 1; Luck, Y. 1; Liang, Y. 1; Siegel, M. 1; Vodolazov, D. Yu.
1 Institut für Mikro- und Nanoelektronische Systeme (IMS), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1103/PhysRevB.89.184511
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Zitationen: 53
Web of Science
Zitationen: 51
Dimensions
Zitationen: 54
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikro- und Nanoelektronische Systeme (IMS)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2014
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1098-0121
KITopen-ID: 1000047710
Erschienen in Physical Review B - Condensed Matter and Materials Physics
Verlag American Physical Society (APS)
Band 89
Heft 18
Seiten 184511
Nachgewiesen in Dimensions
OpenAlex
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