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Interstitial iron impurities at grain boundaries in silicon: A first-principles study

Ziebarth, B.; Mrovec, M.; Elsässer, C.; Gumbsch, P.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien - Zuverlässigkeit von Bauteilen und Systemen (IAM-ZBS)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2015
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1098-0121
KITopen ID: 1000047750
Erschienen in Physical Review B - Condensed Matter and Materials Physics
Band 91
Heft 3
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