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Absolutely referenced distance measurement by combination of time-of-flight and digital holographic methods

Fratz, M.; Weimann, C.; Wölfelschneider, H.; Koos, C.; Höfler, H.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Institut für Photonik und Quantenelektronik (IPQ)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2014
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-0-8194-9905-9
ISSN: 0277-786X
KITopen ID: 1000047849
Erschienen in Photonic instrumentation engineering : 2 - 5 February 2014, San Francisco, California, United States ; inaugural proceedings for the Conference on Photonic Instrumentation Engineering ; part of SPIE photonics west. Ed.: Y.G. Soskind
Verlag SPIE, Bellingham
Seiten 89920O
Serie Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering ; 8992
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