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Absolutely referenced distance measurement by combination of time-of-flight and digital holographic methods

Fratz, M.; Weimann, C. 1; Wölfelschneider, H.; Koos, C. 1; Höfler, H.
1 Institut für Photonik und Quantenelektronik (IPQ), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1117/12.2039426
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Zitationen: 2
Dimensions
Zitationen: 2
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Institut für Photonik und Quantenelektronik (IPQ)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2014
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-0-8194-9905-9
ISSN: 0277-786X
KITopen-ID: 1000047849
Erschienen in Photonic instrumentation engineering : 2 - 5 February 2014, San Francisco, California, United States ; inaugural proceedings for the Conference on Photonic Instrumentation Engineering ; part of SPIE photonics west. Ed.: Y.G. Soskind
Verlag Society of Photo-optical Instrumentation Engineers (SPIE)
Seiten 89920O
Serie Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering ; 8992
Nachgewiesen in Dimensions
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