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URN: urn:nbn:de:swb:90-480440

Resilient Design for Process and Runtime Variations

Firouzi, Farshad

Abstract:
The main objective of this thesis is to tackle the impact of parameter variations in order to improve the chip performance and extend its lifetime.


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Hochschulschrift
Jahr 2015
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 1000048044
Verlag Karlsruhe
Abschlussart Dissertation
Fakultät Fakultät für Informatik (INFORMATIK)
Institut Institut für Technische Informatik (ITEC)
Prüfungsdaten 12.02.2015
Referent/Betreuer Prof. M. B. Tahoori
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