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Resilient Design for Process and Runtime Variations

Firouzi, Farshad

Abstract:
The main objective of this thesis is to tackle the impact of parameter variations in order to improve the chip performance and extend its lifetime.

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Volltext §
DOI: 10.5445/IR/1000048044
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seit 11.05.2018
Downloads: 441
seit 25.06.2015
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Hochschulschrift
Jahr 2015
Sprache Englisch
Identifikator urn:nbn:de:swb:90-480440
KITopen-ID: 1000048044
Verlag KIT, Karlsruhe
Abschlussart Dissertation
Fakultät Fakultät für Informatik (INFORMATIK)
Institut Institut für Technische Informatik (ITEC)
Prüfungsdaten 12.02.2015
Referent/Betreuer Prof. M. B. Tahoori
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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