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Variability- and Reliability-Awareness in the Age of Dark Silicon

Kriebel, Florian; Rehman, Semeen; Shafique, Muhammad; Garg, Siddharth; Henkel, Jörg



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2016
Sprache Englisch
Identifikator DOI: 10.1109/MDAT.2015.2439640
ISSN: 2168-2356
KITopen ID: 1000048484
Erschienen in IEEE Design & Test of Computers
Band 33
Heft 2
Seiten 59-67
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