Variability- and Reliability-Awareness in the Age of Dark Silicon
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2016 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 2168-2356 KITopen-ID: 1000048484 |
| Erschienen in | IEEE Design & Test of Computers |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Band | 33 |
| Heft | 2 |
| Seiten | 59-67 |
| Nachgewiesen in | Web of Science Scopus Dimensions |