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Optoelectronic Characterization of Thin-Film Solar Cells by Electroreflectance and Luminescence Spectroscopy

Krämmer, Christoph Daniel

Abstract:
Im Rahmen dieser Arbeit wurden Dünnschichtsolarzellen mit etablierten Halbleiterspektroskopiemethoden, insbesondere Elektroreflektanzspektroskopie, charakterisiert. Hierzu bedurfte es zunächst einer Weiterentwicklung der Technik selbst, sowohl in Bezug auf die Messung wie auch der Analyse.


Volltext §
DOI: 10.5445/IR/1000048527
Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Physik (APH)
Publikationstyp Hochschulschrift
Publikationsjahr 2015
Sprache Englisch
Identifikator urn:nbn:de:swb:90-485270
KITopen-ID: 1000048527
Verlag Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
Art der Arbeit Dissertation
Fakultät Fakultät für Physik (PHYSIK)
Institut Institut für Angewandte Physik (APH)
Prüfungsdaten 26.06.2015
Referent/Betreuer Prof. H. Kalt
Schlagwörter Halbleiterphysik, Solarenergie, Dünnschichtphotovoltaik, Elektroreflektanz, Halbleiterspektroskopie
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