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URN: urn:nbn:de:swb:90-485270

Optoelectronic Characterization of Thin-Film Solar Cells by Electroreflectance and Luminescence Spectroscopy

Krämmer, Christoph Daniel

Abstract:
Im Rahmen dieser Arbeit wurden Dünnschichtsolarzellen mit etablierten Halbleiterspektroskopiemethoden, insbesondere Elektroreflektanzspektroskopie, charakterisiert. Hierzu bedurfte es zunächst einer Weiterentwicklung der Technik selbst, sowohl in Bezug auf die Messung wie auch der Analyse.


Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Physik (APH)
Publikationstyp Hochschulschrift
Jahr 2015
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 1000048527
Verlag Karlsruhe
Abschlussart Dissertation
Fakultät Fakultät für Physik (PHYSIK)
Institut Institut für Angewandte Physik (APH)
Prüfungsdaten 26.06.2015
Referent/Betreuer Prof. H. Kalt
Schlagworte Halbleiterphysik, Solarenergie, Dünnschichtphotovoltaik, Elektroreflektanz, Halbleiterspektroskopie
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