Optoelectronic Characterization of Thin-Film Solar Cells by Electroreflectance and Luminescence Spectroscopy
Abstract:
Im Rahmen dieser Arbeit wurden Dünnschichtsolarzellen mit etablierten Halbleiterspektroskopiemethoden, insbesondere Elektroreflektanzspektroskopie, charakterisiert. Hierzu bedurfte es zunächst einer Weiterentwicklung der Technik selbst, sowohl in Bezug auf die Messung wie auch der Analyse.
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Angewandte Physik (APH) |
| Publikationstyp | Hochschulschrift |
| Publikationsjahr | 2015 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | urn:nbn:de:swb:90-485270 KITopen-ID: 1000048527 |
| Verlag | Karlsruher Institut für Technologie (KIT) |
| Art der Arbeit | Dissertation |
| Fakultät | Fakultät für Physik (PHYSIK) |
| Institut | Institut für Angewandte Physik (APH) |
| Prüfungsdaten | 26.06.2015 |
| Schlagwörter | Halbleiterphysik, Solarenergie, Dünnschichtphotovoltaik, Elektroreflektanz, Halbleiterspektroskopie |
| Referent/Betreuer | Kalt, H. |