Comprehensive Analysis of Sequential and Combinational Soft Errors in an Embedded Processor
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2015 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 0278-0070 KITopen-ID: 1000048563 |
| Erschienen in | IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Band | 34 |
| Heft | 10 |
| Seiten | 1586-1599 |
| Nachgewiesen in | Dimensions Scopus Web of Science |