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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/TCAD.2015.2422845
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Zitationen: 24
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Zitationen: 12

Comprehensive Analysis of Sequential and Combinational Soft Errors in an Embedded Processor

Ebrahimi, Mojtaba; Evans, A.; Tahoori, M.B.; Costenaro, E.; Alexandrescu, D.; Chandra, V.; Seyyedi, R.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2015
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0278-0070
KITopen-ID: 1000048563
Erschienen in IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems
Band 34
Heft 10
Seiten 1586-1599
Nachgewiesen in Web of Science
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