Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) |
Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
Publikationsjahr | 2015 |
Sprache | Englisch |
Identifikator | ISSN: 0923-8174 KITopen-ID: 1000048569 |
Erschienen in | Journal of Electronic Testing |
Verlag | Springer |
Band | 31 |
Heft | 2 |
Seiten | 193-206 |
Nachgewiesen in | Dimensions Scopus Web of Science |