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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1007/s10836-015-5519-3
Web of Science
Zitationen: 7

Formal Quantification of the Register Vulnerabilities to Soft Error in RTL Control Paths

Chen, Liang; Ebrahimi, Mojtaba; Tahoori, Mehdi B.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2015
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0923-8174
KITopen ID: 1000048569
Erschienen in Journal of Electronic Testing
Band 31
Heft 2
Seiten 193-206
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