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Overview of HVCMOS pixel sensors

Perić, I. ORCID iD icon 1; Eber, R. 2; Ehrler, F. 1; Augustin, H.; Berger, N.; Dittmeier, S.; Graf, C.; Huth, L.; Perrevoort, A.-K.; Phillipp, R.; Repenning, J.; Bruch, D. vom; Wiedner, D.; Hirono, T.; Benoit, M.; Bilbao, J.; Risti, B.; Muenstermann, D.
1 Institut für Prozessdatenverarbeitung und Elektronik (IPE), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 Fakultät für Physik – Institut für Experimentelle Kernphysik (IEKP), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1088/1748-0221/10/05/C05021
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Zitationen: 24
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Zitationen: 21
Dimensions
Zitationen: 22
Zugehörige Institution(en) am KIT Fakultät für Physik – Institut für Experimentelle Kernphysik (IEKP)
Institut für Prozessdatenverarbeitung und Elektronik (IPE)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2015
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1748-0221
KITopen-ID: 1000048595
HGF-Programm 54.02.03 (POF III, LK 01) ASICs und Integrationstechnologien
Erschienen in Journal of Instrumentation
Verlag Institute of Physics Publishing Ltd (IOP Publishing Ltd)
Band 10
Heft 5
Seiten Art.Nr. C05021
Nachgewiesen in Web of Science
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