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Efficient reliability-based design optimization for microelectromechanical systems

Engesser, Manuel; Buhmann, Alexander; Franke, Axel R.; Korvink, Jan G.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2010
Sprache Englisch
Identifikator DOI: 10.1109/JSEN.2010.2044171
ISSN: 1530-437X
KITopen ID: 1000048986
Erschienen in IEEE Sensors Journal
Band 10
Heft 8
Seiten 1383-1390
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