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Model order reduction for scanning electrochemical microscope: The treatment of nonzero initial condition

Feng, L.; Koziol, D.; Rudnyi, E.B.; Korvink, J.G.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2004
Sprache Englisch
Identifikator DOI: 10.1109/ICSENS.2004.1426403
ISBN: 0-7803-8692-2
KITopen ID: 1000049054
Erschienen in Proceedings of the IEEE Sensors 2004 : October, 24-27, Vienna University of Technology, Vienna, Austria. Vol 3. Ed.: D. Rocha
Verlag IEEE, Piscataway (NJ)
Seiten 1236-1239
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