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Model order reduction for scanning electrochemical microscope: The treatment of nonzero initial condition

Feng, L.; Koziol, D.; Rudnyi, E. B.; Korvink, J. G.


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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/ICSENS.2004.1426403
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Zitationen: 5
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Zitationen: 3
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2004
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 0-7803-8692-2
KITopen-ID: 1000049054
Erschienen in Proceedings of the IEEE Sensors 2004 : October, 24-27, Vienna University of Technology, Vienna, Austria. Vol 3. Ed.: D. Rocha
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Seiten 1236-1239
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