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Solving Singularities in Electrostatics with High-order FEM

Liu, Z.; Korvink, J.G.; Reed, M.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2003
Sprache Englisch
Identifikator DOI: 10.1109/ICSENS.2003.1279067
ISBN: 0-7803-8133-5
KITopen ID: 1000049067
Erschienen in Proceedings of IEEE Sensors. Second IEEE International Conference on Sensors, October 22 - 24, 2003, Sheraton Centre Hotel, Totonot, Canada. Vol. 2
Verlag IEEE, Piscataway (NJ)
Seiten 872-876
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