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Advanced atomic force microscopy techniques II

Glatzel, Thilo; Garcia, Ricardo; Schimmel, Thomas



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2014
Sprache Englisch
Identifikator DOI: 10.3762/bjnano.5.241
ISSN: 2190-4286
KITopen ID: 1000049187
HGF-Programm 43.12.01; LK 01
Erschienen in Beilstein Journal of Nanotechnology
Band 5
Seiten 2326-2327
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