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Advanced atomic force microscopy techniques II

Glatzel, Thilo; Garcia, Ricardo; Schimmel, Thomas

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Verlagsausgabe §
DOI: 10.5445/IR/1000049187
Veröffentlicht am 24.05.2018
Originalveröffentlichung
DOI: 10.3762/bjnano.5.241
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Web of Science
Zitationen: 4
Seitenaufrufe: 23
seit 07.05.2018
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seit 04.06.2018
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2014
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 2190-4286
urn:nbn:de:swb:90-491874
KITopen-ID: 1000049187
HGF-Programm 43.12.01 (POF II, LK 01)
Erschienen in Beilstein journal of nanotechnology
Band 5
Heft 1
Seiten 2326-2327
Nachgewiesen in Scopus
Web of Science
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