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Verlagsausgabe
DOI: 10.5445/IR/1000049187
Veröffentlicht am 24.05.2018
Originalveröffentlichung
DOI: 10.3762/bjnano.5.241
Scopus
Zitationen: 4
Web of Science
Zitationen: 4

Advanced atomic force microscopy techniques II

Glatzel, Thilo; Garcia, Ricardo; Schimmel, Thomas



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2014
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 2190-4286
URN: urn:nbn:de:swb:90-491874
KITopen-ID: 1000049187
HGF-Programm 43.12.01 (POF II, LK 01)
Erschienen in Beilstein journal of nanotechnology
Band 5
Heft 1
Seiten 2326-2327
Nachgewiesen in Web of Science
Scopus
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