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Energy weighted x-ray dark-field imaging

Pelzer, G.; Zang, A.; Anton, G.; Bayer, F.; Horn, F.; Kraus, M.; Rieger, J.; Ritter, A.; Wandner, J.; Weber, T.; Fauler, A.; Fiederle, M.; Wong, W.S.; Campbell, M.; Meiser, J.; Meyer, P.; Mohr, J.; Michel, T.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2014
Sprache Englisch
Identifikator DOI: 10.1364/OE.22.024507
ISSN: 1094-4087
KITopen ID: 1000049197
HGF-Programm 43.14.02; LK 01
Erschienen in Optics Express
Band 22
Heft 20
Seiten 24507-24515
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