Energy weighted x-ray dark-field imaging

Pelzer, G.; Zang, A.; Anton, G.; Bayer, F.; Horn, F.; Kraus, M.; Rieger, J.; Ritter, A.; Wandner, J.; Weber, T.; Fauler, A.; Fiederle, M.; Wong, W. S.; Campbell, M.; Meiser, J.; Meyer, P.; Mohr, J.; Michel, T.

doi:10.1364/OE.22.024507

Energy weighted x-ray dark-field imaging

Pelzer, G.; Zang, A.; Anton, G.; Bayer, F.; Horn, F.; Kraus, M.; Rieger, J.; Ritter, A.; Wandner, J.; Weber, T.; Fauler, A.; Fiederle, M.; Wong, W. S.; Campbell, M.; Meiser, J. ¹; Meyer, P. ¹; Mohr, J. ¹; Michel, T.
¹ Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)

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DOI: 10.1364/OE.22.024507

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT) Universität Karlsruhe (TH) – Interfakultative Einrichtungen (Interfakultative Einrichtungen) Karlsruhe Nano Micro Facility (KNMF) Karlsruhe School of Optics & Photonics (KSOP)
Publikationstyp	Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr	2014
Sprache	Englisch
Identifikator	ISSN: 1094-4087 KITopen-ID: 1000049197
HGF-Programm	43.14.02 (POF II, LK 01) X-Ray-Optics
Erschienen in	Optics express
Verlag	Optica Publishing Group (OSA)
Band	22
Heft	20
Seiten	24507-24515
Nachgewiesen in	Web of Science Dimensions Scopus

Repository KITopen

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