KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

Energy weighted x-ray dark-field imaging

Pelzer, G.; Zang, A.; Anton, G.; Bayer, F.; Horn, F.; Kraus, M.; Rieger, J.; Ritter, A.; Wandner, J.; Weber, T.; Fauler, A.; Fiederle, M.; Wong, W. S.; Campbell, M.; Meiser, J. 1; Meyer, P. 1; Mohr, J. 1; Michel, T.
1 Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Download
Originalveröffentlichung
DOI: 10.1364/OE.22.024507
Scopus
Zitationen: 10
Web of Science
Zitationen: 9
Dimensions
Zitationen: 12
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Universität Karlsruhe (TH) – Interfakultative Einrichtungen (Interfakultative Einrichtungen)
Karlsruhe Nano Micro Facility (KNMF)
Karlsruhe School of Optics & Photonics (KSOP)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2014
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1094-4087
KITopen-ID: 1000049197
HGF-Programm 43.14.02 (POF II, LK 01) X-Ray-Optics
Erschienen in Optics express
Verlag Optica Publishing Group (OSA)
Band 22
Heft 20
Seiten 24507-24515
Nachgewiesen in Scopus
Web of Science
Dimensions
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
KITopen Landing Page