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Micro-integrated Biaxial Gradient System for Magnetic Resonance Microscopy

Meissner, V.; Meier, C.; Spengler, N.; While, P.T.; Korvink. J. G.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Publikationstyp Poster
Jahr 2013
Sprache Englisch
Identifikator KITopen ID: 1000049438
Erschienen in 54th Experimental Nuclear Magnetic Resonance Conference (ENC), 14-19 April 2013, Pacific Grove, CA, USA
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