Micro-integrated Biaxial Gradient System for Magnetic Resonance Microscopy

Meissner, V.; Meier, C.; Spengler, N.; While, P. T.; Korvink. J. G.

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Publikationstyp	Poster
Publikationsjahr	2013
Sprache	Englisch
Identifikator	KITopen-ID: 1000049438
Veranstaltung	54th Experimental Nuclear Magnetic Resonance Conference (ENC), 14-19 April 2013, Pacific Grove, CA, USA