The heavily intermixed In2S3/Cu(In, Ga)Se2 interface as Revealed by photoelectron and soft x-ray emission spectroscopy

Bar, M.; Barreau, N.; Couzinie-Devy, F.; Felix, R.; Klaer, J.; Pookpanratana, S.; Blum, M.; Zhang, Y.; Denlinger, J. D.; Yang, W.; Wilks, R. G.; Weinhardt, L.; Schock, H.-W.; Kessler, J.; Heske, C.

doi:10.1109/PVSC.2013.6744280

The heavily intermixed In2S3/Cu(In, Ga)Se2 interface as Revealed by photoelectron and soft x-ray emission spectroscopy

Bar, M.; Barreau, N.; Couzinie-Devy, F.; Felix, R.; Klaer, J.; Pookpanratana, S.; Blum, M.; Zhang, Y.; Denlinger, J. D.; Yang, W.; Wilks, R. G.; Weinhardt, L. ¹^,2; Schock, H.-W.; Kessler, J.; Heske, C. ¹^,2^,3
¹ Institut für Photonenforschung und Synchrotronstrahlung (IPS), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
² ANKA - die Synchrotronstrahlungsquelle am KIT (ANKA), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
³ Institut für Technische Chemie und Polymerchemie (ITCP), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)

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DOI: 10.1109/PVSC.2013.6744280

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Institut für Technische Chemie und Polymerchemie (ITCP)
Publikationstyp	Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr	2013
Sprache	Englisch
Identifikator	ISBN: 978-1-4799-3299-3 ISSN: 0160-8371 KITopen-ID: 1000049899
HGF-Programm	55.51.10 (POF I, LK 01)
Erschienen in	39th IEEE Photovoltaic Specialists Conference, PVSC 2013; Tampa, FL; United States; 16 June 2013 through 21 June 2013
Verlag	Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Seiten	857-862
Serie	Conference Record of the IEEE Photovoltaic Specialists Conference ; 6744280
Nachgewiesen in	Dimensions Scopus

Repository KITopen

The heavily intermixed In2S3/Cu(In, Ga)Se2 interface as Revealed by photoelectron and soft x-ray emission spectroscopy