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The heavily intermixed In2S3/Cu(In, Ga)Se2 interface as Revealed by photoelectron and soft x-ray emission spectroscopy

Bar, M.; Barreau, N.; Couzinie-Devy, F.; Felix, R.; Klaer, J.; Pookpanratana, S.; Blum, M.; Zhang, Y.; Denlinger, J. D.; Yang, W.; Wilks, R. G.; Weinhardt, L.; Schock, H.-W.; Kessler, J.; Heske, C.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Chemie und Polymerchemie (ITCP)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2013
Sprache Englisch
Identifikator DOI: 10.1109/PVSC.2013.6744280
ISBN: 978-1-4799-3299-3
ISSN: 0160-8371
KITopen ID: 1000049899
Erschienen in 39th IEEE Photovoltaic Specialists Conference, PVSC 2013; Tampa, FL; United States; 16 June 2013 through 21 June 2013
Verlag IEEE, Piscataway (NJ)
Seiten 857-862
Serie Conference Record of the IEEE Photovoltaic Specialists Conference ; 6744280
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